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費(fèi)希爾代理MMS PC2涂鍍層測(cè)厚及材料測(cè)試儀 MMS PC2采用不同測(cè)量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試相關(guān)的各種需球。只需使用一臺(tái)儀器就可以完成涂鍍層厚度測(cè)量以及材料測(cè)試，各種不同的探頭，用于被測(cè)樣品不同的幾何形狀和厚度范圍。 -
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